晶體管參數(shù)測(cè)試儀行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
JFY3022A晶體管參數(shù)測(cè)試儀詳細(xì)介紹 
※概述: 
JFY3022A晶體管參數(shù)測(cè)試儀,是一種專門(mén)用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。 
※             測(cè)量元件類型: 
N型三極管,P型三極管,N型MOS場(chǎng)效應(yīng)管,P型MOS場(chǎng)效應(yīng)管N型結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管,正負(fù)三端穩(wěn)壓IC,三端肖特基,基準(zhǔn)器431,整流二極管,整流橋堆,可控硅,穩(wěn)壓二極管. 
※             測(cè)量參數(shù): 
■ 整流二極管,三端肖特基,整流橋堆:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 正向壓降(VF) | 0-2.000V | 0-2.000A | 
| 耐壓(VRR) | 0-1500V | 0-2.000MA | 
■N型三極管:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 輸入正向壓降(VBE) | 0-2.000V | 0-2.000A | 
| 耐壓(BVCEO) | 0-1500V | 0-2.000MA | 
| 放大倍數(shù)(HEF) | 0-3000 | VCE:0-20V IC:0-2.000A | 
| 飽和壓降(Vsat) | 0-2.000V | IB:0-2.00A IC:0-2.00A | 
■P型三極管:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 輸入正向壓降(VBE) | 0-2.000V | 0-2.000A | 
| 耐壓(BVCEO) | 0-1500V | 0-2.000MA | 
| 放大倍數(shù)(HEF) | 0-3000 | VCE:5.0V IB:100uA | 
| 飽和壓降(Vsat) | 0-2.000V | IB:0-2.00A IC:0-2.00A | 
N,P型MOS場(chǎng)效應(yīng)管:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 啟動(dòng)電壓(VGS(th)) | 0-20.00V | 0-2.000mA | 
| 耐壓(BVCEO) | 0-1500V | 0-2.000mA | 
| 導(dǎo)通內(nèi)阻(Rson) | 0.1Mr-200R | Vgs:0-20V Id:0-2.000A | 
單雙向可控硅:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 觸發(fā)電流(IGT) | 0-40.MA | VD=0-20V,ID=0-2.000A | 
| 觸發(fā)電壓(VGT) | 0-2.000V | VD=0-20V,ID=0-2.000A | 
| 耐壓(VDRM VRRM) | 0-1500V | 0-2.000mA | 
| 通態(tài)壓降(VTM) | 0-2.000V | IT:0-2.00A | 
三端穩(wěn)壓IC:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 輸出電壓(Vo) | 0-20.00V | Vin:0-20V Io:0-2.00A | 
基準(zhǔn)IC 431:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 輸出電壓(Vo) | 0-20.00V | IZ:0-200mA | 
■ 穩(wěn)壓二極管:
| 參數(shù)項(xiàng) | 測(cè)試參數(shù) | 測(cè)試條件設(shè)置 | 
| 穩(wěn)壓值(VZ) | 0-20V | 0-100MA | 
| 穩(wěn)壓值(VZ) | 20-200V | 0-2.000MA | 
