更新時間:2024-11-06
色彩色差儀 型號:WF30-16mm 型號WF30 顯示模式(顏色空間)CIELAB、CIELCH 色差公式△E*ab 照明方式CIE推薦方式:8/d、45/0 二選一 光源藍光激發LED 感應器數字型二管陣列 測量口徑φ4mm/φ8mm/φ16mm 可選
色彩色差儀   型號:WF30-16mm
  
型號WF30  
顯示模式(顏色空間)CIELAB、CIELCH  
色差公式△E*ab  
照明方式CIE推薦方式:8/d、45/0 二選一  
光源藍光激發LED  
感應器數字型二管陣列  
測量口徑φ4mm/φ8mm/φ16mm 可選  
測量條件觀察者:CIE 10° 標準觀察者  
標準光源: D50 D65 F11(TL84)   
含光方式:SCI SCE  
量程L: 0 to 100  
重復精度△E<0.05 (測量白板30次取平均值)  
色彩色差儀  臺間差△E<0.2  
測量間隔0.5秒  
數據存儲標樣: 100        試樣: 20000  
語言選擇English/簡體中文  
電池充電時間8小時  
電池鋰電池充滿電可測量5000次以上  
光源壽命5年或大于160萬次測量  
屏幕TFT真彩2.8inch@(16:9),分辨率:400x240  
接口USB2.0 (USB-B型)、RS-232 (115200bps)  
工作溫度0℃-40℃(32℉-104℉)  
存放溫度-20℃-50℃(-4℉-122℉)  
濕度范圍相對濕度低于 85%,無凝露  
重量700g  
尺寸199*68*90mm  
外包裝尺寸400*240*340mm  
標準配件3000mAH鋰電池、電源適配器、USB數據線、《顏色分析系統》  
光盤、說明書、保修卡 
|  | 產品名稱:方塊電阻測試儀 電阻測試儀 產品型號: ST-21 | 
方塊電阻測試儀 電阻測試儀  型號: ST-21 
方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 
該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。 
◆ 特點: 
  
1 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩定,低功耗; 
2 以大屏幕LCD顯示讀數,直觀清晰; 
3 采用單個電池供電,帶電池欠壓指示; 
4 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g; 
5 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜  
6 探頭帶抗靜電模塊 
◆ 技術指標: 
測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔: 
  1.方塊電阻 1.00~199.99Ω/□; 
  2.方塊電阻 10.0~1999.9Ω/□; 
恒流源 測量過程誤差:≤±0.8% 
模數轉換器 量程:0~199.99mv; 
 分辨率:10μv; 
 方式:LCD大屏幕顯示;性,量程均自動顯示;小數點同步顯示; 
測量不確定度 在整個量程范圍內,測量不確定度≤5% 
四探針探頭規格 間距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;緣電阻≥500MΩ 
電源 9V疊層電池1節
