更新時間:2024-11-09
數字式電阻率測試儀 電阻率測試儀型號:M-2 運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低,中值電阻進行測量
數字式電阻率測試儀 號:M-2
 運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低,中值電阻進行測量 
 是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低,中值電阻進行測量。 
儀器由主機,測試探頭(可選配測試臺)等部分組成,測試結果用數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源,高分辨率ADC,嵌入式單片機系統組成,自動轉換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成,定位準確,游移率較小,壽命長。 
儀器于半導體材料廠,半導體器件廠,科研單位,高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合. 
 工作條件為: 
溫度: 
相對濕度: 60% ~ 70% 
工作室內應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源 
  
數字式電阻率測試儀 技術參數 
1. 測量范圍: 
電阻率:10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻:10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻:10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可測半導體材料尺寸 
直徑:15mm-100mm 
長(或高)度:≤400mm 
3. 測量方位: 
軸向,徑向均可 
4. 數字電壓表 
量程:2V 
誤差: :± 0.1% FSB ± 2LSB 
大分辨力:10μA 
精度: 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示:4位數字顯示,小數點自動顯示 
5. 數控恒流源 
電流輸出: 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進可調,系統自動調整。 
誤差:± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探針測試探頭: 
探針間距: 1mm 
探針機械游移率:± 1% 
探針:碳化鎢,直徑0.5mm 
7.電源: 
DC 4.5V ~8V 
功耗: < 1W 
電源適配器:輸入: 220V±10% 50Hz 
輸出:DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸: 
主機: 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高) 
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 紅外線快速水分測定儀 速水分測定儀 外快速水份儀 型號:FY-20  | 
