更新時間:2024-11-09
金屬高溫導熱系數測試儀 型號:DRJ-I該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法,于80°~900℃溫度范圍內測量金屬無相變溫度下的導熱系數,由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導熱系數的測試要求。儀器參考標準:GB/T3651-2008《金屬高溫導熱系數測量方法》。
金屬高溫導熱系數測試儀   型號:DRJ-I
該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法,于80°~900℃溫度范圍內測量金屬無相變溫度下的導熱系數,由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導熱系數的測試要求。儀器參考標準:GB/T3651-2008《金屬高溫導熱系數測量方法》。 
金屬高溫導熱系數測試儀  主要技術指標 
1、 導熱系數測試范圍:5~400W/m·K; 
2、 準確度:優于5%; 
3、 對實驗溫度實現可控狀態下的測試,電爐高溫度1000℃; 
4、 電源:220V,50HZ; 
5、 連接上位機,實現計算機自動測試、實現數據打印輸出; 
6、 試樣尺寸要求:棒狀試樣:Ф3-5×220(mm) 
絲狀試樣:Ф1-3×20-45(mm)
|  | 產品名稱:數字式四探針測試儀 產品型號:SZT-1 | 
數字式四探針測試儀型號:SZT-1
SZT-1型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率,測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻(方塊電阻),換上特制的四探針測試夾,還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外,探針經過特殊加工后,還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導體材料、器件廠、高等院校化學物理系、科研單位,對半導體材料的電阻性能測試。 
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針,定位準確,游移率小,使用壽命長。 
SZT-1型數字式四探針測試儀技術參數: 
1. 測量范圍: 
電阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方塊電阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
電阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
導電類型鑒別:電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2. 可測半導體材料尺寸 
直徑:φ15~100 mm 
長度:≤400mm 
3. 測量方法: 
軸向、斷面均可 
4. 顯示方式:31/2,數顯,性、過載自動顯示,小數點、單位自動顯示。 
5. 恒流源: 
(1) 電流輸出:直流電流0~100 mA連續可調。 
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA 
(3) 誤差:±0.5%讀數±2個字 
6.四探針測試探頭 
(1) 探針間距:1mm 
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0% 
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W 
 
| 
 便攜式聲波測厚儀 聲波測厚儀  型號:TT340  | 
